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【22th.Mar.】电子直接探测带来TEM成像与谱学分析新可能

2021-03-15

题目:电子直接探测带来TEM成像与谱学分析新可能

报告人:袁昊 博士

时间:2021年03月22日,星期一,14:30-15:30

地点:霞光楼 200号 报告厅

邀请人:刘晰 特别研究员

报告简介

电子直接探测不仅为生命科学领域中冷冻电镜表征带来了革命性的飞跃,也为材料科学研究带来了新的探索机会。直接探测超高的灵敏度和信噪比,许多以往受限于辐照损伤而难以在TEM中获取高空间分辨率结构信息或谱学信息的材料体系,都能够在直接探测相机的帮助下,以基于传统技术无法达到的低辐照剂量,获得高质量的表征结果。本次报告将介绍运用直接探测相机获得的成像与分析应用结果及其为不同研究领域带来的新视角。

报告人简介


毕业于南京理工大学材料科学与工程系,2017年加入Gatan中国团队,主要负责Gatan成像与分析产品售前售后应用支持。



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