上海交通大学 化学化工学院测试中心【仪器设备信息卡】

中文名称

透射式电子显微镜

英文名称

Transmission Electron Microscope

型号

JEM-2100

生产商

JEOL Ltd., Japan

技术规格

最大加速电压: 200 kV
点分辩率: 0.23 nm
线分辩率: 0.14 nm
放大倍数: 50X - 1,500,000X

附件

EDS, STEM

主要用途

各种材料的显微形貌分析、电子衍射分析、元素组成及其在材料中的线分布和面分布。

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